氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)

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2024-10-11 09:31:17
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內(nèi)容摘要：氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)概述氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)是指從事氦質(zhì)譜檢漏工作的機(jī)構(gòu)或個(gè)人所需要具備的資格認(rèn)證，以證明其具備相應(yīng)的專業(yè)知識(shí)、技能和能力，能...

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氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)概述

氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)是指從事氦質(zhì)譜檢漏工作的機(jī)構(gòu)或個(gè)人所需要具備的資格認(rèn)證，以證明其具備相應(yīng)的專業(yè)知識(shí)、技能和能力，能夠準(zhǔn)確、可靠地進(jìn)行氦質(zhì)譜檢漏操作，并保證檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

氦質(zhì)譜檢測(cè)的方法

真空法：需要利用輔助真空泵或檢漏儀對(duì)被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室抽真空，采用氦罩或噴吹的方法在被檢產(chǎn)品外表面施氦氣。按照施漏氣體方法的不同，又可以分為真空噴吹法和真空氦罩法。真空噴吹法采用噴槍向被檢產(chǎn)品外表面噴吹氦氣，可實(shí)現(xiàn)漏孔精確定位；真空氦罩法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來，在罩內(nèi)充滿一定濃度的氦氣，可實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測(cè)量。
- 優(yōu)點(diǎn)：檢測(cè)靈敏度高，可精確定位，能實(shí)現(xiàn)大容器或復(fù)雜結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢漏。
- 缺點(diǎn)：只能實(shí)現(xiàn)一個(gè)大氣壓差的漏率檢測(cè)，不能準(zhǔn)確反映帶壓被檢產(chǎn)品的真實(shí)泄漏狀態(tài)。
- 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：主要有 QJ3123-2000《氦質(zhì)譜真空檢漏方法》、GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗(yàn)》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于真空密封性能要求，但不帶壓工作的產(chǎn)品，如空間活動(dòng)部件、液氫槽車、環(huán)境模擬設(shè)備等。
正壓法：需對(duì)被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封室充入高于一個(gè)大氣壓力的氦氣，當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時(shí)，氦氣會(huì)通過漏孔進(jìn)入被檢外表面的周圍大氣環(huán)境中，再采用吸槍的方式檢測(cè)被檢產(chǎn)品周圍大氣環(huán)境中的氦氣濃度增量，從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品泄漏測(cè)量。按照收集氦氣方式的不同，又可以分為正壓吸槍法和正壓累積法。正壓吸槍法采用檢漏儀吸槍對(duì)被檢產(chǎn)品外表面進(jìn)行掃描探查，可實(shí)現(xiàn)漏孔精確定位；正壓累積法采用有一定密閉功能的氦罩將被檢產(chǎn)品全部罩起來，采用檢漏儀吸槍測(cè)量一定時(shí)間段前后的氦罩內(nèi)氦氣濃度變化量，實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的精確測(cè)量。
- 優(yōu)點(diǎn)：不需要輔助的真空系統(tǒng)，可精確定位，實(shí)現(xiàn)任何工作壓力下的檢測(cè)。
- 缺點(diǎn)：檢測(cè)靈敏度較低，檢測(cè)結(jié)果不確定度大，受測(cè)量環(huán)境條件影響大。
- 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：主要有 QJ3089-1999《氦質(zhì)譜正壓檢漏方法》、QJ2862-1996《壓力容器焊縫氦質(zhì)譜吸槍罩盒檢漏試驗(yàn)方法》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于大容積高壓密閉容器產(chǎn)品的檢漏，如高壓氦氣瓶、艙門檢漏儀等。
真空壓力法：需要將被檢產(chǎn)品整體放入真空密封室內(nèi)，真空密封室與輔助抽空系統(tǒng)和檢漏儀相連，被檢產(chǎn)品的充氣接口通過連接管道引出真空密封室后，再與氦氣源相連，當(dāng)被檢產(chǎn)品表面有漏孔時(shí)，氦氣就會(huì)通過漏孔進(jìn)入真空密封室，再進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率的測(cè)量。
- 優(yōu)點(diǎn)：檢測(cè)靈敏度高，能實(shí)現(xiàn)任何工作壓力的漏率檢測(cè)，反映被檢件的真實(shí)泄漏狀態(tài)。
- 缺點(diǎn)：檢漏系統(tǒng)復(fù)雜，需要根據(jù)被檢產(chǎn)品的容積和形狀設(shè)計(jì)真空密封室。
- 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB /T 15823-2009《氦泄漏檢驗(yàn)》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、壓力不是特別高的密封產(chǎn)品，如電磁閥、高壓充氣管道、推進(jìn)劑貯箱、天線、應(yīng)答機(jī)、整星產(chǎn)品等。
背壓法：浸泡數(shù)小時(shí)或數(shù)天，如果被檢產(chǎn)品表面有漏孔，氦氣便通過漏孔壓入被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔中，使內(nèi)部密封腔中氦分壓力上升。然后取出被檢產(chǎn)品，將表面的殘余氦氣吹除后再將被檢產(chǎn)品放入與檢漏儀相連的真空容器內(nèi)，被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔內(nèi)的氦氣會(huì)通過漏孔泄漏到真空容器，再進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率測(cè)量。檢漏儀給出的漏率值為測(cè)量漏率，需要通過換算公式計(jì)算出被檢產(chǎn)品的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率。
- 優(yōu)點(diǎn)：檢測(cè)靈敏度高，能實(shí)現(xiàn)小型密封容器產(chǎn)品的泄漏檢測(cè)，可以進(jìn)行批量化檢測(cè)。
- 缺點(diǎn)：不能進(jìn)行大型密封容器的漏，否則由于密封腔體容積太大，導(dǎo)致加壓時(shí)間太長(zhǎng)。每個(gè)測(cè)量漏率都對(duì)應(yīng)兩個(gè)等效標(biāo)準(zhǔn)漏率，在細(xì)檢完成后還需要采用其它方法進(jìn)行粗檢，排除大漏的可能。
- 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：主要有 QJ3212-2005《氦質(zhì)譜背壓檢漏方法》、GJB360A-1996《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法112 密封試驗(yàn)》。
- 應(yīng)用范圍：主要應(yīng)用于各種電子元器件產(chǎn)品檢漏。

氦質(zhì)譜檢測(cè)的原理

氦質(zhì)譜檢漏法是利用氦質(zhì)譜檢漏儀的氦分壓力測(cè)量原理，實(shí)現(xiàn)被檢件的氦泄漏量測(cè)量。當(dāng)被檢件密封面上存在漏孔時(shí)，示漏氣體氦氣及其它成分的氣體均會(huì)從漏孔泄出，泄漏出來的氣體進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀后，由于氦質(zhì)譜檢漏儀的選擇性識(shí)別能力，僅給出氣體中的氦氣分壓力信號(hào)值。在獲得氦氣信號(hào)值的基礎(chǔ)上，通過標(biāo)準(zhǔn)漏孔比對(duì)的方法就可以獲得漏孔對(duì)氦泄漏量。

氦質(zhì)譜檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)

精度高：可以達(dá)到 5E-12 mbarL/s 甚至更高的精度，可通過標(biāo)準(zhǔn)漏孔進(jìn)行計(jì)量，并且重復(fù)性非常好。
快速：能夠盡快定位并修復(fù)漏點(diǎn)，節(jié)省時(shí)間并減少報(bào)廢。
可定位漏點(diǎn)：噴氦法、吸槍法等常見的氦質(zhì)譜檢漏方法可以確定泄漏的位置，便于后期處理漏孔或改進(jìn)工藝。
不受溫度、產(chǎn)品形變、內(nèi)表面放氣等的影響，不會(huì)弄濕或污染工件。

氦氣作為示蹤氣體的原因

氦氣在環(huán)境空氣中含量極少（5ppm），環(huán)境本底比較低。
氦氣分子很小，并且擴(kuò)散很快，可以縮短檢測(cè)器響應(yīng)泄漏的時(shí)間。
氦氣容易獲取，無毒、不易燃并且屬于惰性氣體。

氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)的重要性

擁有氦質(zhì)譜檢測(cè)資質(zhì)意味著能夠遵循嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范進(jìn)行操作，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，從而保障相關(guān)產(chǎn)品或設(shè)備的質(zhì)量和安全性。同時(shí)，這也是在相關(guān)領(lǐng)域開展業(yè)務(wù)、獲得客戶信任的重要憑證。

補(bǔ)充信息

氦質(zhì)譜檢漏儀的分類與結(jié)構(gòu)

氦質(zhì)譜檢漏儀有多種分類方式，根據(jù)不同的結(jié)構(gòu)和功能特點(diǎn)，可以分為不同的類型。其結(jié)構(gòu)通常包括高真空系統(tǒng)、質(zhì)譜室、離子源、加速電場(chǎng)、磁場(chǎng)、收集極等部分。

氦質(zhì)譜檢漏儀的工作原理

外界的氣體進(jìn)入到檢漏儀質(zhì)譜室后，產(chǎn)生離子。氣體離子被加速后進(jìn)入磁場(chǎng)，其路徑會(huì)被偏轉(zhuǎn)，由于不同的離子荷質(zhì)比不同，偏轉(zhuǎn)半徑也不同。在合適的地方設(shè)置一個(gè)狹縫，就可以僅讓示蹤氣體——氦氣的離子通過并到達(dá)收集極。收集極得到的離子流信號(hào)和進(jìn)入檢漏儀的氦氣量多少，即泄露率的大小成正比。通過測(cè)量該信號(hào)，就可以測(cè)量泄漏率。